太陽(yáng)光模擬器檢測(cè)儀設(shè)備性能：

u?整機(jī)系統(tǒng)方案采用軟/硬件結(jié)合設(shè)計(jì)，在不損失指標(biāo)和性能的前提下，簡(jiǎn)化硬件設(shè)計(jì)，提高可靠性；并使設(shè)備的維護(hù)和檢修更加容易。

u?閃燈脈寬0--45?ms連續(xù)可調(diào)，步進(jìn)1ms，適應(yīng)不同的電池片測(cè)量。

u?一次閃光測(cè)試區(qū)間，可設(shè)定多次測(cè)量，并且光強(qiáng)可根據(jù)每次測(cè)量的要求分別設(shè)定、以適應(yīng)不同的應(yīng)用需求(可選)。

u?采用2M×4路高速同步采集卡，更多還原測(cè)試曲線細(xì)節(jié)，準(zhǔn)確反映被測(cè)電池片的實(shí)際工作情況。

u?自動(dòng)控制，在整個(gè)測(cè)試區(qū)間實(shí)時(shí)偵測(cè)電池片和主要單元電路的工作狀態(tài)，并提供軟/硬件保護(hù)，保證設(shè)備的可靠運(yùn)行。

?

太陽(yáng)光模擬器檢測(cè)儀技術(shù)參數(shù)

?型號(hào)規(guī)格：SMT-A???SMT-B???SMT-F　

輻照不均勻度：≤±2%（SMT-A）???≤±3%（SMT-B）???≤±2%（SMT-F）　

輻照不穩(wěn)定度：≤±2%（SMT-A）???≤±3%（SMT-B）???≤±2%（SMT-F）　

測(cè)試結(jié)果一致性：≤±0.5%（SMT-A）???≤±1%（SMT-B）???≤±0.5%（SMT-F）　

電性能測(cè)試誤差：≤±1%（SMT-A）???≤±2%（SMT-B）???≤±1%（SMT-F）　

單次閃光時(shí)間：10ms　

光譜范圍：符合IEC60904-9要求（A級(jí)）　

輻照強(qiáng)度：100mW/cm2(調(diào)節(jié)范圍70~120mW/cm2)　

有效測(cè)試面積：2000mm×1050mm(2000mm×1200mm定制）

有效測(cè)試范圍：10W~300W　

測(cè)量電壓：1V~10V(分辨率1mV)　

測(cè)量電流：100mA~20A(分辨率1mA)　

測(cè)試參數(shù)：Isc?、Voc?、Pmax?、Vm?、Im?、FF、?EFF?、Temp　

數(shù)據(jù)采集：含8000個(gè)數(shù)據(jù)采集點(diǎn)

? ? ?
? ? ?太陽(yáng)光模擬器檢測(cè)儀應(yīng)用領(lǐng)域：　

專門用于太陽(yáng)能單晶硅、多晶硅、非晶硅電池組件的電性能測(cè)試。　

聯(lián)系人：陶女士

電話：027-59722666-8013

手機(jī)：15671696583

QQ:1563376021

?

?

?