optotherm熱發(fā)射顯微鏡系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)-立特為智能電話：l52l9504346 （溫先生）

關(guān)鍵詞： ?Optotherm IS640 SENTRIS，Thermal Emission Microscope system

1.?它的應(yīng)用非常廣泛，去封裝的芯片分析，未去封裝的芯片分析，電容，F(xiàn)PC,甚至小尺寸的電路板分析（PCB、PCBA）,這也就讓你可以在對(duì)樣品的不同階段都可以使用thermal技術(shù)進(jìn)行分析，如下圖示例，樣品電路板漏電定位到某QFN封裝器件漏電，將該器件拆下后發(fā)現(xiàn)漏電改善，對(duì)該器件焊引線出來(lái)，未開(kāi)封定位為某引腳，開(kāi)封后扎針上電再做分析，進(jìn)一步確認(rèn)為晶圓某引線位置漏電導(dǎo)致，如有需要可接著做SEM,FIB等分析。

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未開(kāi)封器件分析

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開(kāi)封器件分析

2. 它能偵測(cè)的半導(dǎo)體缺陷也非常廣泛，微安級(jí)漏電，低阻抗短路，ES擊傷，閂鎖效應(yīng)點(diǎn)，金屬層底部短路等等，而電容的漏電和短路點(diǎn)定位，F(xiàn)PC,PCB,PCBA的漏電，微短路等也能夠精確定位

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lock-in鎖相分析

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開(kāi)封芯片漏電分析

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GAN-SIC器件

3，它是無(wú)損分析：作為日常的失效分析，往往樣品量稀少，這就要求失效分析技術(shù)最好是無(wú)損的，而對(duì)于某些例如陶瓷電容和FPC的缺陷，雖然電測(cè)能測(cè)出存在缺陷，但是對(duì)具體缺陷位置，市場(chǎng)上的無(wú)損分析如XRAY或超聲波，卻很難進(jìn)行定位，只能通過(guò)對(duì)樣品進(jìn)行破壞性切片分析，且只能隨機(jī)挑選位置，而通過(guò)Thermal 技術(shù)，你需要的只是給樣品上電，就可以對(duì)上述兩種缺陷進(jìn)行定位

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FPC缺陷分析

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電容缺陷分析

4,鎖相熱成像（LOCK IN THERMOGRAPHY）：利用鎖相技術(shù)，將溫度分辨率提高到0.001℃，5um分辨率鏡頭，可以偵測(cè)uA級(jí)漏電流和微短路缺陷，遠(yuǎn)由于傳統(tǒng)熱成像及液晶熱點(diǎn)偵測(cè)法（0.1℃分辨率，mA級(jí)漏電流熱點(diǎn)）

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5，系統(tǒng)能夠測(cè)量芯片等微觀器件的溫度分布，提供了一種快速探測(cè)熱點(diǎn)和熱梯度的有效手段，熱分布不僅能顯示出缺陷的位置，在半導(dǎo)體領(lǐng)域

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在集成電路操作期間，內(nèi)部結(jié)自加熱導(dǎo)致接合處的熱量集中。器件中的峰值溫度處于接合處本身，并且熱從接合部向外傳導(dǎo)到封裝中。因此，器件操作期間的精確結(jié)溫測(cè)量是熱表征的組成部分。

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芯片附著缺陷可能是由于諸如不充分或污染的芯片附著材料，分層或空隙等原因引起的。Sentris熱分析工具（如 圖像序列分析）可用于評(píng)估樣品由內(nèi)到外的熱量傳遞過(guò)程，以便確定管芯接合的完整性。

OPTOTHERM Sentris 熱發(fā)射顯微鏡系統(tǒng)作為一臺(tái)專(zhuān)業(yè)為缺陷定位的系統(tǒng)，專(zhuān)為電子產(chǎn)品FA設(shè)計(jì)，通過(guò)特別的LOCK-IN技術(shù)，使用LWIR鏡頭，仍能將將溫度分辨率提升到0.001℃（1mK），同時(shí)光學(xué)分辨率最高達(dá)到5um,尤其其軟件系統(tǒng)經(jīng)過(guò)多年的優(yōu)化，具有非常易用和實(shí)用，以下是OPTOTHERM Sentris 熱發(fā)射顯微鏡系統(tǒng)分析過(guò)程的說(shuō)明視頻

LEADERWE (‘Leaderwe intelligent international limited?‘and ‘ShenZhen Leaderwe Intelligent Co.,Ltd‘)作為Optotherm公司中國(guó)代表（獨(dú)家代理），在深圳設(shè)立optotherm紅外熱分析應(yīng)用實(shí)驗(yàn)室，負(fù)責(zé)該設(shè)備的演示和銷(xiāo)售，如有相關(guān)應(yīng)用，可提供免費(fèi)評(píng)估測(cè)試服務(wù)。

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紅外熱成像儀的構(gòu)成

紅外熱像儀的構(gòu)成包5大部分：

1、紅外鏡頭: 接收和匯聚被測(cè)物體發(fā)射的紅外輻射；

2、紅外探測(cè)器組件: 將熱輻射型號(hào)變成電信號(hào)；

3、電子組件: 對(duì)電信號(hào)進(jìn)行處理；

4、顯示組件: 將電信號(hào)轉(zhuǎn)變成可見(jiàn)光圖像；

5、軟件: 處理采集到的溫度數(shù)據(jù)，轉(zhuǎn)換成溫度讀數(shù)和圖像。

紅外熱成像儀的分類(lèi)

紅外熱像儀按照工作溫度分為制冷型和非制冷性
制冷式熱成像儀：其探測(cè)器中集成了一個(gè)低溫制冷器，這種裝置可以給探測(cè)器降溫度，這樣是為了使熱噪聲的信號(hào)低于成像信號(hào)，成像質(zhì)量更好。
非制冷式熱成像儀：其探測(cè)器不需要低溫制冷，采用的探測(cè)器通常是以微測(cè)輻射熱計(jì)為基礎(chǔ)，主要有多晶硅和氧化釩兩種探測(cè)器。

紅外熱像儀按照功能分為測(cè)溫型和非測(cè)溫型
測(cè)溫型紅外熱像儀：測(cè)溫型紅外熱像儀，可以直接從熱圖像上讀出物體表面任意點(diǎn)的溫度數(shù)值，這種系統(tǒng)可以作為無(wú)損檢測(cè)儀器，但是有效距離比較短。
非測(cè)溫型紅外熱像儀：非測(cè)溫型紅外熱像儀只能觀察到物體表面熱輻射的差異，這種系統(tǒng)可以作為觀測(cè)工具，有效距離比較長(zhǎng)。

紅外熱成像儀的特點(diǎn)

與一般檢測(cè)設(shè)備相比，紅外熱成像儀具有以下鮮明特點(diǎn)：

1、熱成像儀可以對(duì)運(yùn)動(dòng)物體進(jìn)行測(cè)溫，而普通測(cè)溫儀表很難做到這一點(diǎn)；

2、可以借助顯微鏡頭對(duì)幾微米甚至更小的目標(biāo)進(jìn)行測(cè)溫；

3、可以快速地對(duì)設(shè)備進(jìn)行熱診斷；

4、不會(huì)對(duì)所測(cè)量的溫度場(chǎng)產(chǎn)生干擾；

5、測(cè)溫范圍大，根據(jù)型號(hào)的不同，一般可測(cè)量0℃—2000℃的范圍；

6、靈敏度高，根據(jù)型號(hào)不同，可分辨0.1℃甚至更小的溫差；

7、使用安全，由于測(cè)量的非接觸性，使得熱成像儀使用起來(lái)非常安全。

紅外熱成像儀的發(fā)展歷程

l800年，英國(guó)天文學(xué)家F.W.赫歇耳發(fā)現(xiàn)了紅外線。

上世紀(jì)70年代，熱成像系統(tǒng)和電荷耦合器件被成功應(yīng)用。

上世紀(jì)末，以焦平面陣列（FPA）為代表的紅外器件被成功應(yīng)用。
紅外技術(shù)的核心是紅外探測(cè)器，紅外探測(cè)器按其特點(diǎn)可分為四代：

第一代（l970s－80s）：主要是以單元、多元器件進(jìn)行光機(jī)串/并掃描成像；

第二代（l990s－2000s）：是以4x288為代表的掃描型焦平面；

第三代：凝視型焦平面；

第四代：目前正在發(fā)展的以大面陣、高分辨率、多波段、智能靈巧型為主要特點(diǎn)的系統(tǒng)芯片，具有高性能數(shù)字信號(hào)處理功能，甚至具備單片多波段探測(cè)與識(shí)別能力。

目前非制冷焦平面探測(cè)器的主流技術(shù)為熱敏電阻式微輻射熱計(jì)，根據(jù)使用的熱敏電阻材料的不同可以分為氧化釩探測(cè)器和非晶硅探測(cè)器兩種。

非制冷焦平面陣列探測(cè)器的發(fā)展，其性能可以滿(mǎn)足部分的軍|事用途和幾乎所有的民用領(lǐng)域，真正實(shí)現(xiàn)了小型化、低價(jià)格和高可靠性，成為紅外探測(cè)成像領(lǐng)域中極具前途和市場(chǎng)潛力的發(fā)展方向。

optotherm熱發(fā)射顯微鏡系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)-立特為智能價(jià)值的真實(shí)體現(xiàn)。安裝一臺(tái)固定式紅外熱像儀可記錄酥炸雞柳從連續(xù)式傳送帶烤箱中出爐時(shí)的溫度。除熟食檢測(cè)外，紅外熱像儀還能監(jiān)測(cè)傳送帶烤箱。紅外熱像儀在傳送帶烤箱的另一，optotherm熱發(fā)射顯微鏡系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)-立特為智能發(fā)現(xiàn)這個(gè)問(wèn)題。諸如此類(lèi)的質(zhì)量監(jiān)測(cè)使用傳統(tǒng)的接觸式溫度傳感器更不易檢測(cè)出來(lái)。因此，紅外熱像儀有助于在眾多產(chǎn)品報(bào)廢前更正產(chǎn)品發(fā)生的變化，提升產(chǎn)品質(zhì)量。紅外熱像儀悘用，optotherm熱發(fā)射顯微鏡系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)-立特為智能貨商提供技術(shù)培訓(xùn)和支持。相比于以上的那些參數(shù)的好壞，個(gè)人認(rèn)為最重要的是售后，售后服務(wù)好的話，即便是產(chǎn)品相對(duì)差一點(diǎn)也沒(méi)關(guān)系，用起來(lái)也不會(huì)很扎心。但是如果售后都不好，optotherm熱發(fā)射顯微鏡系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)-立特為智能的散熱設(shè)計(jì)更有針對(duì)性。二、散熱方案評(píng)估驗(yàn)設(shè)計(jì)階段會(huì)有多種散熱方案，紅外熱像儀可幫助研發(fā)人員快速、直觀的評(píng)估不同散熱方案，確定技術(shù)路線。三、散熱材料比選確定散熱方。