眼鏡高低溫沖擊試驗機(jī)技術(shù)參數(shù)1、產(chǎn)品名稱眼鏡高低溫沖擊箱2、產(chǎn)品型號BLD-80B3、試樣限制本試驗設(shè)備禁止易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗或儲存腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗或儲存生物試樣的試驗或儲存強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗或儲存4、容積、尺寸和重量4.1.內(nèi)容積150L4.2.內(nèi)箱尺寸60 *50 *50㎝ (W*H*D) （可選配）4.3.外型尺寸(約)162 *190 * 185㎝ (W*H*D) 4.4.重量900㎏5. 性能指針5.1.測試環(huán)境條件環(huán)境溫度為 28℃、相對濕度≤ 85%、試驗箱內(nèi)無試樣條件下5.2.測試方法GB/T 5170.2-1996溫度試驗設(shè)備5.3.高溫室5.3.1.預(yù)熱溫度范圍 60℃～ 150℃5.3.2.升溫時間 60℃→ 150℃≤ 40min注：升溫時間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時的性能5.4.低溫室注：升溫時間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時的性能5.4.1.預(yù)冷溫度范圍-78℃～-10℃5.4.2.降溫時間 20℃→-78℃≤ 100min注：降溫時間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時的性能5.5.試驗室（試樣區(qū)）5.5.1.試驗方式氣動風(fēng)門切換2溫區(qū)或3溫區(qū)5.5.2.溫度沖擊范圍-65℃～ 150℃5.5.3.溫度波動度±0.5℃5.5.4.溫度偏差±2.0℃5.5.5.溫度恢復(fù)間≤ 5min 5.5.6.恢復(fù)條件 表1恢復(fù)條件試樣：塑料封裝集成電路（均布）傳感器位置：試樣的上風(fēng)側(cè)高溫曝露: 150℃：30分鐘環(huán)境溫度曝露: ---低溫曝露: -40℃：30分鐘試樣重量: 2.5kg 5.6.滿足試驗標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.1-2008試驗A：低溫試驗方法GB/T 2423.2-2008試驗B：高溫試驗方法GB/T2423.22-2002試驗N：溫度變化試驗方法 試驗NaGJB150.5A-2009軍用設(shè)備實(shí)驗室環(huán)境試驗方法 第5部分:溫度沖擊試驗GJB 360A-1996 溫度沖擊試驗GJB367.2-2001 軍用通信設(shè)備通用規(guī)范 溫度沖擊試驗IEC 68-2-14試驗方法N：溫度變化