TOKIDAPM料位掃描儀采用三個天線陣列傳輸?shù)皖l脈沖，并接收從筒倉或儲存容器內(nèi)物料返回的脈沖波。料位掃描儀使用這三個天線不僅測量每個方波的時間差/距離，而且還測量回波的方向。料位掃描儀數(shù)字信號處理器采樣、分析接收到的回波信號，為儲存物的料位和體積提供非常精確的測量，并可在遠程計算機屏幕上顯示容器內(nèi)物料真實分布的三維圖像。獨特的粉塵穿透技術(shù)使得過程測量和庫存控制達到了無與倫比的精度。概述APM料位掃描儀是目前唯一一種能夠?qū)ι⒀b固體和粉體提供有效、精確測量的設(shè)備，不論物料的類型或產(chǎn)品特征，儲存筒倉或容器的類型和尺寸，以及苛刻的儲存環(huán)境，都能實施有效測量。三維影像1、這一獨特的技術(shù)可以測量儲存在各種容器中的任何原料，包括筒倉、大型開放式儲存地、散裝物料儲存室、貨堆和倉庫。它可以映射出物料隨機而產(chǎn)生的堆積形狀和不規(guī)則性，從而為目前和其他先前無法進入的挑戰(zhàn)性應(yīng)用領(lǐng)域提供了解決方案。2、存儲物的三維圖像能夠顯示在遠程計算機屏幕上。3、液晶顯示，4鍵操作，輕松導航。4、4線制4---20MA輸出，HART協(xié)議，ExiaIICT6本安防爆。5、測量范圍：70m6、工作溫度：-40-80度7、工作壓力：-0.2-1bar8、發(fā)射頻率：3kHZ-10KHZ9、精度：+-15mm各種料位測量設(shè)備的比較： 超聲波 優(yōu)點：非接觸 局限性：粉塵影響/凹凸面影響 非接觸雷達 優(yōu)點：非接觸 局限性：介電常數(shù)有要求/粉塵影響/凹凸面影響 導波雷達 優(yōu)點：對某個點的測量 局限性：介電常數(shù)有要求/掛料/拉力影響 激光 優(yōu)點：非接觸 局限性：粉塵影響/凹凸面影響 射頻導納料位計 優(yōu)點：點接觸 局限性：介電常數(shù)有要求/時漂/溫漂/掛料/拉力 重錘料位計 優(yōu)點：直接測量/手動控制 局限性：埋錘/亂繩 r射線式料位計 優(yōu)點：非接觸、穩(wěn)定 局限性：有污染 稱重 優(yōu)點：可以測量質(zhì)量/體積 局限性：抗震問題/物料面狀況不知/價格高 APM料位掃描儀： 掃描粉料的表面（成百上千個網(wǎng)格點）無論物料表面如何不規(guī)則，測量的是多點的平均值 具有極強的粉塵穿透能力 非接觸沒有掛料、拉力影響 環(huán)保產(chǎn)品 與介電常數(shù)無關(guān) 體積測量 可視性 自清潔功能 改變傳統(tǒng)測量粉體表面某個點的高度 像看得見內(nèi)部物料分布狀態(tài) 掃描粉體表面，可以在DCS對粉體表面3維成像，從而獲得筒倉內(nèi)盛裝的粉體體積數(shù)據(jù)