國(guó)內(nèi)最佳性比的RoHS檢測(cè)儀 *****硬件體系*******高分辨率探測(cè)器 美國(guó)原裝電制冷Si-PIN探測(cè)器，集合了尖端的核電子多道脈沖幅度分析器。**精密穩(wěn)定的高壓電源 采用工業(yè)級(jí)專用X射線熒光分析的精密高壓電源，為X射線光管提供長(zhǎng)時(shí)間的穩(wěn)定高壓。**低功率X射線光管 采用W/Rh靶X射線管，靜音高速風(fēng)扇制冷，設(shè)計(jì)壽命5萬(wàn)小時(shí)。**高像素?cái)z像頭，精確定位 內(nèi)置130萬(wàn)像素高清攝像頭以及電動(dòng)樣品移動(dòng)裝置，方便對(duì)樣品掃描區(qū)域的準(zhǔn)確定位和觀察。**全方位的X射線防護(hù)體系 采用電源開(kāi)關(guān)鎖、樣品蓋開(kāi)合檢測(cè)等安全裝置全方位防止X射線的泄漏，確保操作人員的安全。*****軟件簡(jiǎn)介*******先進(jìn)的光譜分析方法 緊跟國(guó)際最前沿的X射線光譜分析方法，科學(xué)的對(duì)光譜進(jìn)行元素定性、定量分析。**FP基本參數(shù)法、理論系數(shù)法多種含量校正方法 多種含量校正方法，解決復(fù)雜樣品元素之間的基體影響。**無(wú)標(biāo)樣分析 真正意義上實(shí)現(xiàn)無(wú)任何標(biāo)樣的含量、鍍層分析。對(duì)于含量分析，高含量元素相對(duì)誤差范圍可控制在1%以內(nèi)；對(duì)于鍍層分析，厚度相對(duì)誤差范圍可控制在10%以內(nèi)。**鍍層厚度分析 選用專用的功能模塊實(shí)現(xiàn)對(duì)鍍層厚度的分析，使用戶無(wú)需添加額外硬件即可進(jìn)行鍍層厚度分析。*****產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)***** 由于采用了先進(jìn)復(fù)雜的計(jì)算、校正算法，最大程度上減少了定量分析需要的標(biāo)樣，這在同行中處于領(lǐng)先地位。 X射線熒光分析，需要針對(duì)不同的行業(yè)、不同應(yīng)用使用大量標(biāo)準(zhǔn)樣品。而標(biāo)準(zhǔn)樣品很難獲取且價(jià)格不菲，困擾了很多使用者。為了解決用戶這些難題，研發(fā)人員花費(fèi)數(shù)年時(shí)間，跟蹤參考了國(guó)內(nèi)外諸多有關(guān)X射線熒光分析研究論文、成果，編寫(xiě)出復(fù)雜的軟件算法，減小了X射線熒光測(cè)試對(duì)標(biāo)樣的依賴。對(duì)于鍍層測(cè)厚，我們提供了厚度標(biāo)樣、含量標(biāo)樣、無(wú)標(biāo)樣三種方案。 通過(guò)改進(jìn)硬件，Pb、Cd等的檢測(cè)靈敏度提高2倍。采用新型濾光片，有效的降低X射線熒光本底，提高檢測(cè)靈敏度。 獨(dú)特的光學(xué)準(zhǔn)直器，增強(qiáng)X射線熒光強(qiáng)度。 獨(dú)特光學(xué)準(zhǔn)直器，光束最小直徑達(dá)0.025mm，集中X射線光束，增強(qiáng)熒光強(qiáng)度，提高對(duì)微量元素的檢測(cè)以及超薄鍍層的分析。